Перегляд за автором "Ленков, С.В."

Сортувати за: Порядок: Результатів:

  • Ленков, С.В.; Фишер, З.А.; Зубарев, В.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 1998)
    Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.
  • Завадский, В.А.; Ленков, С.В.; Лукомский, Д.В.; Мокрицкий, В.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Показана возможность управления параметрами эпитаксиальных слоев арсенида галлия с помощью радиационной обработки быстрыми нейтронами. В технологическом аспекте облучение нейтронами предлагается разделить на два вида в ...
  • Ленков, С.В.; Гунченко, Ю.А.; Жеревчук, В.В.; Селюков, А.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008)
    Исследована зависимость яркости электролюминесцентных индикаторов от состава активного материала, от напряжения и частоты источника питания. Выбран оптимальный состав активного материала, разработан источник питания с ...
  • Курмашев, Ш.Д.; Викулин, И.М.; Ленков, С.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
    Показана возможность использования в качестве подзатворного диэлектрика МДП-структур оксидов Er, Dy, La. Преимущества использования оксидов редкоземельных элементов в качестве подзатворного диэлектрика определяются большой ...
  • Мокрицкий, В.А.; Ленков, С.В.; Маслов, О.В.; Савельев, С.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
    Исходные монокристаллы СdZnTe (КЦТ) имеют большое число дефектов, что снижает сопротивление кристалла и увеличивает шумы прибора. Природа и роль подобных дефектов исследованы методом термостимулированной проводимости. Для ...
  • Ленков, С.В.; Зубарев, В.В.; Лавренова, Т.И.; Тариелашвили, Г.Т.; Фишер, З.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 1998)
    Приведена методика применения физико-статистических моделей отказов для определения оптимальной продолжительности и режимов технологических тренировочных прогонов РЭА.
  • Креденцер, Б.П.; Ленков, С.В.; Салимов, Р.А.; Перегудов, Д.А.; Шомин, С.А. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Рассматривается задача оптимизации показателя безотказности подсистем в сложных устройствах микроэлектроники с одновременным учетом модернизации элементов и их резервирования. Получены расчетные соотношения, позволяющие ...
  • Мокрицкий, В.А.; Гаркавенко, А.С.; Зубарев, В.В.; Ленков, С.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2003)
    Выполнено экспериментальное исследование возможности получения слоев с дырочной проводимостью в монокристаллах CdS и GaAs с помощью радиационного легирования. Для этого использован моноэнергетический поток быстрых нейтронов ...
  • Курмашев, Ш.Д.; Викулин, И.М.; Ленков, С.В.; Сидорец, Р.Г. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
    Поверхностно-барьерные структуры использованы в качестве фотоприемника с инжекционным усилением. Исследованы спектры фоточувствительности диодов на основе кремния, компенсированного золотом. Обсуждается вклад различных ...
  • Каркина, Е.А.; Корецкий, В.Н.; Ленков, С.В.; Огарь, Д.К. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
    Рассмотрена возможность замены в составах проводящих клеевых композиций порошков драгоценных металлов (серебро, золото) на порошок меди различных марок. Определено, что из серийно выпускаемых порошков меди приемлемым с ...